Mess-System-Analyse

Voraussetzung und verwandte Themen

Für diese Beschreibungen sind Grundlagen der Statistik und insbesondere der
statistischen Verteilungen vorteilhaft. Weiterführende Themen sind
www.versuchsmethoden.de/Prozessfähigkeit.pdf
www.versuchsmethoden.de/Regelkarten.pdf

Einführung
Als Mess-System-Analyse, kurz MSA, bezeichnet man die Analyse der Fähigkeit von
Messmitteln und kompletten Messsystemen. Man unterscheidet generell zwischen
den Messunsicherheiten des Messgerätes und den Einflüssen aus der Messprozedur
(Handhabung, Prüfereinfluss, etc.). Eine MSA wird auch als Messmittel- oder
Messgerätefähigkeit bezeichnet.

Ziel und Nutzen

Die MSA ist die Grundvoraussetzung für die Durchführung von Fähigkeitsunter-
suchungen. Auch für die Untersuchung von Effekten und deren Nachweis, wird eine
genügend gute Messmittelfähigkeit benötigt. Soll beispielsweise eine technische
Maßnahme Abgaswerte reduzieren, so muss die Messung in der Lage sein, diese
Verbesserung nachweisen zu können.
Bei zu großen systematischen und/oder zufälligen Abweichung eines Messgerätes,
sind Korrekturmaßnahmen vorzunehmen, oder das Messverfahren zu ändern.
Grundlagen
Historisch gibt es 3 Verfahren für die Mess-System-Analyse, die heute weitgehend
durch die ISO/WD 22514-7 bzw. den VDA Band 5 ersetzt wurden. Eine Übersicht
zeigt folgende Darstellung:

Hinweis: Im VDA Band 5 ist die Anforderung QMP  30%, je nach Anwendung ist aber
QMP  20% zu empfehlen.

© 2017 CRGRAPH
Mess-System-Analyse
Zunächst werden die Grundlagen nach den bisherigen Verfahren 1 – 3 beschrieben.
Verfahren 1
Anhand der Fähigkeitskennwerte Cg und Cgk wird entschieden, ob eine Messeinrich-
tung unter Verwendung eines „Normals“ für den vorgesehenen Einsatz unter Be-
triebsbedingungen geeignet ist.
Die Messmittelfähigkeit wird auf 20 % der Toleranz T bezogen. Es gilt:

0,2  T 0,1 T  x g  xm mit x g = angezeigter Mittelwert

Cg  bzw. C gk  xm
2  k  sg k  sg = wahrer Mittelwert
s g = Wiederholstandardabweichung

k=2 Standard für Vertrauensbereich 95,45 %

k=3 Für Vertrauensbereich 99,73 %, falls es die Anwendung erfordert oder es
normative Vorgaben gibt (z.B. Verschraubungstechnik)

In der Regel werden 25 Wiederholungsmessungen durchgeführt. Hieraus wird die

Standardabweichung sg berechnet:

𝑛
1 2
𝑠𝑔 = √ ∑(𝑥𝑖 − 𝑥̅𝑔 )
𝑛−1
𝑖=1

Die Anforderung ist: Cg  1,33 und Cgk  1,33

Die physikalische und angezeigte Auflösung eines Messgerätes muss 2% der zu
messenden Toleranz betragen. In Ausnahmefällen sind bis zu 5% maximal erlaubt.

Verfahren 2
Beim Verfahren 2 wird im Wesentlichen der Bedienereinfluss ermittelt. Hier wird der
Kennwert R&R verwendet, um zu beurteilen, ob die Messeinrichtung geeignet ist.
Es werden mindestens 2 Prüfer (k  2) festgelegt. Weiterhin erfolgt die Auswahl von
mindesten 5 (besser 10) Messobjekten (n  5), die möglichst über den Toleranz-
bereich verteilt sind. Jeder Prüfer muss jedes Messobjekt mindestens zweimal
messen (r  2).
Weiterhin muss folgende Bedingung erfüllt werden: k r  n  30.
Zur Auswertung wird jeweils der Mittelwert jedes Prüfers x und die mittleren Spann-
weiten R berechnet. Danach wird die Wiederholpräzision mit dem Mittelwert aller
mittleren Spannweiten bestimmt:
R1  max Diff (Messg.1, Messg.2,...)

R2  max Diff (Messg.1, Messg.2,...)

1 1
R1 
n
 R1,i R2 
n
 R2,i

© 2017 CRGRAPH
Mess-System-Analyse
Hieraus wird die mittlere Gesamtspannweite berechnet. Für zwei Prüfer gilt:

R1  R2
R 
2
Mit Hilfe eines Korrekturfaktors K1 nach Duncan, siehe /27/, der die Stichprobengröße
berücksichtigt, kann nun die „Variation des Gerätes“ (Equipment Variation EV)
berechnet werden.
EV  K1  R Korrekturfaktor K1

Anschließend wird der Einfluss des Prüfers berechnet. Hierzu müssen die größten
und kleinsten Mittelwerte aller Messreihen der Prüfer bestimmt werden. Der jeweils
größte und kleinste Wert wird zur weiteren Bewertung herangezogen.
Mit Hilfe eines weiteren Korrekturfaktors K2 nach Duncan, siehe /27/, der die
Prüferanzahl berücksichtigt, ergibt sich die Variation des Prüfereinflusses (Appraiser
Variation AV).
AV  K 2  xDiff Korrekturfaktor K2

xDiff  xmax  xmin xmax = Mittelwert von dem Prüfer, aus dessen Messreihe der größte
Mittelwert errechnet wurde.
xmin
= Mittelwert von dem Prüfer, aus dessen Messreihe der kleinste
Mittelwert errechnet wurde.
Hiermit entsteht:

R&R  EV  AV
2 2
bzw.

%R&R = R&R / RF 100% mit RF = Bezugsgröße, meist Toleranz T oder Bereich der Teile

Es muss gelten:
%R&R  20% (Empfehlung)
%R&R  30% (Standard)

Verfahren 3
Das Verfahren 3 ist ein Sonderfall des Verfahrens 2 und wird bei Messsystemen an-
gewendet, bei denen kein Bedienereinfluss vorliegt (z.B. mechanisierte Messein-
richtung, Prüfautomaten usw.). Die Berechnung erfolgt wie bei Verfahren 2, jedoch
mit einem Prüfer. Es muss gelten: r  n  20.
Die Methode wird im Gegensatz zu Verfahren 1 auch dann angewendet, wenn die
Messdaten nicht normalverteilt sind.

MSA Gage R&R

Die Messsystemanalyse nach MSA 4 /27/ ist dem Berechnungsverfahren, nach
Verfahren 2 sehr ähnlich. Die Berechnung der Variation des Gerätes EV ist hier
identisch. Beim Einfluss des Prüfers AV wird jedoch ein Anteil von EV abgezogen,

AV  K 2  xDiff   EV
2 2
/( n  r ) 

© 2017 CRGRAPH
Mess-System-Analyse
was den Einfluss des Prüfers geringer werden lässt. Anstelle des Bezuges auf die
Toleranz, kann hier %AV, %EV und %RR auch auf die Totalvariation der Bauteile
bezogen werden:

TV  RR 2  PV 2
PV  Rp  K3

Rp berechnet sich aus den Mittelwerten aller Teile (zeilenweise) und hiervon die
größte Differenz. K3 ist der Korrekturfaktor nach Duncan, siehe /27/, mit Parameter n
Messungen (erste Zeile).

%R&R ergibt sich somit zu:

RR
%R & R   100 %
TV
Der Bezug ist hier eine berechnete Teilevariation im Gegensatz zu der möglichen
angegebenen RF-Bezugsgröße aus größtem und kleinstem Wert der Teile bei
Verfahren 2 u. 3. Analog hierzu gilt TV als Bezug für die anderen Kennwerte.
Wird nicht auf die Bauteilvariation, sondern auf eine (Prozess-)Toleranz bezogen, so
gilt hier:
6
% R & R  RR   100 % für Vertrauensbereich 99,73%
Tol

5,152
% R & R  RR   100 % für Vertrauensbereich 99%
Tol
Nach MSA Ausg. 4 /27/ bzw. ISO/TS 16949 gilt die Anforderung:

%R&R (%GRR)  10%.

Zwischen 10% und 30% gilt das Messsystem noch als bedingt fähig.

Auch hier sind die anderen Kennwerte auf die gleiche Weise umzurechnen. Die
Prozentangaben beinhalten hier also einen Bezug auf die statistische Fähigkeit.
Dieser ist vor allem für Produktionsprozesse anzuwenden, während die Beobach-
tungsgrenzen einer DoE-Untersuchung nicht als Toleranzen anzusehen sind,
sondern voll erfüllt werden müssen.

Eine Kennzahl zur Beurteilung, wie sich die Variation der Bauteile zur
Messunsicherheit verhält, ist die sogenannte „number of distinct categories“ (Anzahl
unterscheidbarer Kategorien/Bereiche):
PV
ndc 1,41 ndc ≥ 5.
RR

ndc wird normalerweise auf eine ganze Zahl abgerundet.

© 2017 CRGRAPH
Mess-System-Analyse
Messsystemanalyse mit ANOVA
Die Einflüsse werden bei der ANOVA nicht über den Range und einem Korrek-
turfaktor, sondern über eine Streuungszerlegung bestimmt (siehe hierzu auch Kapitel
ANOVA). Dabei setzen sich die Einflüsse aus der Variation der Teile, der Prüfer,
sowie der Wechselwirkung zwischen diesen zusammen. Der größte Vorteil der
ANOVA ist die Berücksichtigung der Wechselwirkung, weshalb dieses Verfahren zu
bevorzugen ist.
Um die Einflüsse getrennt beurteilen zu können, zerlegt man die Summe der
quadratischen Abweichungen über alle Messwerte in Teilsummen und betrachtet
deren Varianzen. Die klassische Darstellung im angelsächsischen Sprachraum ist:

Degress of Freedom Sum of Squares Mean Square F-Wert

Anzahl Informationen Varianz = SS/DF

DF SS MS F
Teil 9 1,181E-05 1,313E-06 71,7
Prüfer 2 3,640E-07 1,820E-07 9,9
Teil*Prüfer (Wechselw.) 18 3,293E-07 1,830E-08 0,7
Wiederholbarkeit 30 7,700E-07 2,567E-08
Total 59 1,328E-05

Die Darstellung der MSA ist:

Sym. Sym.
Wiederholbarkeit EV 9,080E-04 %EV 18,2
Prüfereinfluss AV 5,351E-04 %AV 10,7
Wechselwirkung IA 0,000E-01 %IA 0,0
Teilevariation PV 2,782E-03 %PV 30,0
Messsystem RR 1,054E-03 %R&R 21,1

Zunächst werden Quadratsummen der Tabellendaten horizontal und vertikal gebildet

(Sum of Squares). Mit Hilfe der Freiheitsgrade DF entsteht hieraus die Varianz (Mean
Square) und die Standardabweichung der Anteile. Ausgegeben wird hiervon der 6-
fache Wert, was 99,73% der Teile beinhaltet. Über dem F-Wert als Verhältnis der
Varianzen-Summen von Prüfer und Wiederholungen werden die Signifikanzen der
Anteile bestimmt (in der Regel über den p-Value).
Bei der Angabe der Beispielzahlen ist zu berücksichtigen, dass zur Verrechnung mit
und ohne Wechselwirkungen andere Anteile entstehen.

Die ANOVA-Methode und der gesamte Algorithmus kann unter dem Template
Messsystemanalyse_ANOVA+VDA5.vxg unter Daten/Programm eingesehen wer-
den. Die verwendete Nomenklatur entspricht dabei dem Leitfaden zum Fähigkeits-
nachweis von Messsystemen /28/.

© 2017 CRGRAPH
Mess-System-Analyse
Messsystemanalyse analog VDA 5

Im Verfahren nach VDA 5 bzw. ISO 22514-7 spricht man von Messunsicherheiten,
deren Anteile analog der ANOVA berechnet werden. Hier betrachtet man jedoch nicht
die Varianzen, sondern die Standardabweichungen, die über das Symbol u
beschrieben werden. Grundsätzlich gilt:

Messprozess = Messunsicherh. Gerät + Messunsicherh. Vorrichtung&Prüfer

Die wichtigsten Messunsicherheiten zeigt folgende Übersicht:

Anteil Symb. Berechnung

Auflösung der Anzeige u RE = 𝑅𝐸/√12 RE Auflösung

Systematische Abweichung u Bi = |𝑥̅𝑔− 𝑥𝑚 |/√3 𝑥̅𝑔 angez. Mittelw.

Normal
𝑥𝑚 Referenzwert Normal
Wiederholbarkeit am
1 𝑥𝑖 Messw. i-te Wiederh.
2
Normal u EVR =√ ∑(𝑥𝑖 − 𝑥̅𝑔 ) 𝑛𝑛 Anzahl Wiederh.
𝑛𝑛 − 1

Hieraus wird der Geräteeinfluss (MS = MessSystem) als Zwischenergebnis gebildet:

2 2 2 }
𝑢𝑀𝑆 = √𝑢𝐵𝐼 + 𝑚𝑎𝑥{𝑢𝑅𝐸 ; 𝑢𝐸𝑉𝑅

Der Umfang der Vorrichtung und des Prüfers ist:

Anteil Symb. Berechnung

Wiederholbarkeit Prüfobjekt u EVO = √𝑀𝑆𝐸𝑉 MSEV Varianz Wiederholbark.

Vergleichbarkeit Prüfer u AV = √𝑀𝑆𝐴𝑉 MSAV Varianz Prüfer

Wechselwirkung u IA = √𝑀𝑆𝐼𝐴 MSIA Varianz Wechselwirkg.

Es sind mindestens 10 Messobjekte zu verwenden, die möglichst über den Tole-

ranzbereich verteilt sind. Diese werden von den Prüfern mindestens zweimal ver-
messen. Analog Gage R&R Verfahren 3 ist auch nur ein Prüfer möglich, wenn die
MFU/PFU nur von einem Prüfer durchgeführt wird.

Insgesamt wird der Messprozess bestimmt durch:

2 2 2 2 } 2 2
𝑢𝑀𝑃 = √𝑢𝐵𝐼 + 𝑚𝑎𝑥{𝑢𝑅𝐸 ; 𝑢𝐸𝑉𝑅 ; 𝑢𝐸𝑉𝑂 + 𝑢𝐴𝑉 + 𝑢𝐼𝐴

Analog dem %R&R wird hier auf die Toleranz bezogen und es ergibt sich die Kennzahl
𝑘 ∙ 2 ∙ 𝑢𝑀𝑃
%𝑄𝑀𝑃 = 100% ∙  30% mit k=2 für Vertr.bereich 95,45%, bzw. k=3 für 99,73%
𝑇𝑜𝑙

In manchen Bereichen wird auch %QMP ≤ 20% gefordert. Weitere Messunsicher-

heiten z.B. Kalibrierung, Linearität, Stabilität, Temperatur, etc. können dem VDA
Band 5 entnommen werden und sollen hier nicht berücksichtigt werden.

© 2017 CRGRAPH
Mess-System-Analyse
Verringerung der Messunsicherheit durch Wiederholungen

Für den Fall, dass die Anforderung nicht erreicht wird, aber kein alternatives
Messmittel zur Verfügung steht, gibt es die Möglichkeit der Wiederholungen. Durch
mehrfache Messungen und Mittelwertbildung kann eine Verringerung der
Messunsicherheit erzielt werden. Zufällige Messunsicherheiten lassen sich bei m-
Wiederholungen um den Faktor √𝑚 verringern. Der Anteil uEVO wird dann zu

∗
𝑢𝐸𝑉𝑂
𝑢𝐸𝑉𝑂 =
√𝑚

Ist aus bisherigen Messungen uEVO bekannt, so kann in umgekehrter Richtung die
notwendige Anzahl Wiederholungen bestimmt werden, um die geforderte
Messunsicherheit zu erreichen.

Messmittelfähigkeit für diskrete Merkmale

Unter diskreten oder attributiven Merkmalen versteht man hier Messungen, die als
Ergebnis nur gut oder schlecht kennen (zwei Ausprägungen). Dies ist in vielen Fällen
z.B. bei subjektiven Beobachtungen gegeben.

Im Verfahren Gage R&R für diskrete Merkmale lässt man mehrere Prüfer jeweils
zweimal verschiedene Teile „messen“ durchführen. Das könnten z.B. Messungen an
Teilen sein, die entweder intakt, oder fehlerhaft sind. Gibt es innerhalb eines Prüfers,
oder zwischen verschiedenen Prüfern Abweichungen, so werde diese gezählt. Das
Verhältnis unterschiedlicher Ergebnisse zu der Anzahl Teile soll nicht größer als 10%
sein.

In der sogenannten Cohen's Kappa Methode lässt man die Prüfer 3mal ein Teil
messen (Ergebnis als 0 oder 1). Hier geht es nicht nur um die Abweichungen
zwischen den Prüfern, sondern um die Abweichungen zu den tatsächlichen Werten
(Referenzmessung als wahrer Zustand der Teile).
Aus dem Verhältnis der Abweichungen zu den Referenzwerten werden Score-Werte
gebildet, die gegen die Vertrauensbereiche aus der Binomial-Verteilung zu testen
sind. Aufgrund des Bezugs zu einem Referenzwert ist diese Methode
aussagekräftiger, als die Methode nach Gage R&R diskret. Weitere Informationen
sind der MSA 4 /27/ zu entnehmen.

Im sogenannten Bowker-Verfahren können drei Ausprägungen berücksichtigt

werden, z.B. gut, schlecht und zusätzlich das Ergebnis „uneinheitlich“. Mindestens
40 verschiedene Prüfobjekte werden von 2 Prüfern je 3mal geprüft. Jedes der 40
Ergebnisse wird in drei Klassen aufgeteilt:

Klasse 1 : alle 3 Wiederholungen ergaben das Ergebnis gut

Klasse 2 : innerhalb der 3 Wiederholungen abweichende Ergebnisse
Klasse 3 : alle 3 Wiederholungen ergaben das Ergebnis schlecht.

Das Ergebnis in Form einer Kreuztabelle wird mit Hilfe der ²-Verteilung auf
Symmetrie getestet. Weitere Informationen sind dem VDA-Band 5 /31/ zu ent-
nehmen.

© 2017 CRGRAPH
Mess-System-Analyse
Weitere Einflüsse auf Messunsicherheiten

Mensch Maschine Messung

Auflösung

Unterw eisung Material Stabilität

Verschiedene Prüfer Verformung Messbereich

Körperliches B efinden Oberfläche E mpfindlichkeit

Konzentration Formabw eichung Kalibrierung

Sorgfalt Zugänglichkeit Drift/ system. Abw eichung

E instellunsicherheit

Messun-
sicherheit

B eleuchtung
Statistische B erechnung
Verschmutzung
Wechselw irkungen
Luftfeuchtigkeit
Umrechnungen
Schw ingungen
Messprozedur
Spannung/ Strom
Anordnung
Druck
B erührungslos/ Taster
Temperatur

Methode Mitwelt

Auch hier gilt rechnerisch, dass sich weitere Messunsicherheiten (uEinfluss) über das
Gaussche Fehlerfortplanzungsgesetz addieren:

2 2 2
𝑢𝑀𝑃 = √ … + 𝑢𝐸1 + 𝑢𝐸2 + 𝑢𝐸3 …

Insbesondere (Mess-) Aufnahmen (siehe Beispiel aus Nennung im Ishikawa)

und deren mögliche Verformungen können einen erheblichen Einfluss auf die
Messunsicher-heiten haben. Diese sollten soweit wie möglich durch Versuche
quantifiziert werden. Ist das nicht möglich, so müssen diese Anteile
rechnerisch berücksichtigt werden, z.B. durch Steifigkeitsberechnungen.
Weiterhin sind Herstellerangaben zu berücksichtigen, z.B. bei elektronischen
Messsensoren.

© 2017 CRGRAPH
 Mess-System-Analyse
Auswahlübersicht
Auswahl für Messmittelprüfung

Stetige Messgrößen Diskrete Messgrößen

Einfluss der Einfluss der Einfluss der Einfluss der

Wiederholbarkeit Wiederholbarkeit Wiederholbarkeit Wiederholbarkeit
an einem verschiedener verschiedener verschiedener
Normal Prüfer und Teile Teile Prüfer

Verfahren 1 Verfahren 2 Verfahren 3 Shainin Gage R&R

Cg/Cgk Gage R&R Gage R&R Isoplot diskret

Kappa Methode
Verfahren 2 Verfahren 3 MSA 4
R&R MSA 4 R&R MSA 4

Bowker
ANOVA
Verfahren
VDA Band 5
VDA Band 5
ISO 22514-7

Literatur

/27/ Measurement System Analysis MSA 4

Fourth Edition 7/2010
ISBN# 978-1-60-534211-5

/28/ Leitfaden zum “Fähigkeitnachweis von Messsystemen”

Stand September 2002,
Version 2.1 D/E

/29/ Statistische Methoden der Qualitätssicherung

Horst Rinne, Hans-Joachim Mittag
Hanser, München/Wien 2002, ISBN 3-446-15503-1.

/30/ Handbuch Qualitätsmanangement

Masing
Hanser, München, ISBN 978-3-446-40752-7

/31/ VDA Band 5 Prüfprozesseignung

Verband der Automobilindustrie e.V. VDA – QMC
2. Auflage, Frankfurt 2010, ISSN 0943-9412

© 2017 CRGRAPH
Mess-System-Analyse

Anwendung in Visual-XSel 13.0 / 14.0

www.crgraph.de

Alle Verfahren und Analysen werden über Templates bereitgestellt. Verwenden Sie
nach Start des Programms die Mess-System-Analyse im Startleitfaden, oder den
Menüpunkt:

Man kann zunächst die Übersichtsgrafik öffnen, um dann die benötigte Analyse aus
der Grafik mit Strg+Click auszuwählen. Hierzu muss die Datei erst geöffnet werden,
eine Auwahl über die Vorschau ist nicht möglich. Natürlich kann man das
entsprechende Template auch direkt über die Auswahl links anklicken.

© 2017 CRGRAPH
Mess-System-Analyse

Die Anwendung der Mess-System-Analyse soll am Beipiel der MSA nach VDA-5
erfolgen. Das Vorgehen ist bei allen anderen Verfahren ähnlich.

Nach dem Laden des Templates gibt es die Möglichkeiten Daten, die sich in der
Zwischenablage befinden, direkt einzufügen. Verwenden Sie dafür unbedingt den
Link innerhalb der Sprechblase!

Die ist natürlich nur möglich, wenn die Daten, zumindest so wie in Spalte B-D
vorliegen. Ansonsten sind diese einzeln mit Crtl-V einzufügen. Dies ist meistens für
die Messungen für das Normal ab Spalte F noch nachträglich so zu handhaben.

Nach vollständiger Befüllung der Daten ist das Makro mit F9 zu starten, um die
Auswertung durchzuführen. Alternativ kann die entsprechende Taste Makro
gedrückt werden:

Es folgen eine Reihe von Abfragen, die wie folgt zu beantworten sind:

© 2017 CRGRAPH
Mess-System-Analyse

Die Messunsicherheiten für die

Kalibrierung und der Linearität können
nachträglich in der Tabellenseite T2
eingetragen werden. Die Auswertung ist
dann erneut mit F9 zu starten.

Das für die VA relevante Ergebnis befindet

sich im Hauptfenster aus Seite 2

© 2017 CRGRAPH
Mess-System-Analyse
Literatur

Taschenbuch der statistischen Qualitäts- und Zuverlässigkeitsmethoden

Die wichtigsten Methoden und Verfahren für die Praxis.

Beinhaltet statistische Methoden für Versuchsplanung &

Datenanalyse, sowie Zuverlässigkeit & Weibull.

- Statistische Verteilungen und Tests & Mischverteilungen

- Six Sigma Einführung und Zyklen
- Systemanalysen Wirkdiagramm, FMEA, FTA,
Matrizen-Methoden
- Shainin- und Taguchi-Methoden
- Versuchsplanung DoE, D-Optimal
- Korrelations- und Regressionsverfahren
- Multivariate Datenauswertungen
- Prozessfähigkeit – Messmittelfähigkeit MSA 4 und VDA 5
- Regelkarten
- Toleranzrechnung und Monte-Carlo-Simulation
- Statistische Hypothesentests
- Weibull und Lebensdaueranalysen
- Stichprobengröße

190 Seiten, Ringbuch

ISBN: 978-3-00-043678-9

© 2017 CRGRAPH