Herb Leisenfelder ハーブ・リーゼンフェルダー

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日本 長野県
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概要

日本電磁測器株式会社は磁気製品応用技術の業界パイオニアであり、2021年に入社していたします。非破壊…

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職務経験

  • Nihon Denji Sokki Co., Ltd. (NDK) グラフィック

    Nihon Denji Sokki Co., Ltd. (NDK)

    Greater Matsumoto-Nagano Area

  • -

    長野県伊那市

  • -

    本社（事）諏訪市

  • -

    富士見事務所

  • -

    富士見事務所：　

  • -

    Matsumoto Nagano Japan

  • -

    長野市

  • -

    豊科事務所

  • -

    甲府市

  • -

    Albany, New York Area

学歴

  • Rensselaer Polytechnic Institute グラフィック

    レンセリア工科大学

    –

    ゼミ・クラブ・サークル:IEEE、米国物理学会(APS)

    限界要素方法で電解を計算し、円筒型の静電エネルギー分析器を設計するため、分析器におけるイオンを軌道を計算。

  • –

    ゼミ・クラブ・サークル:米国航空宇宙工学連盟

    流体力学、天体力学

  • –

    ゼミ・クラブ・サークル:米国物理学会(APS) 、米国航空宇宙工学連盟(AIAA)、レスリング、ラグビークラブ

    合金の磁界特性と超伝道材料の特性を研究。

資格

出版物

  • Electrostatic energy analyzer for multi-MeV heavy ion beam probes.

    Rev. Sci. Instrum

    As heavy ion beam probe energies increase, the commonly used parallel‐plate energy analyzer may not be practical. A cylindrical electrostatic analyzer is being tested as a possible replacement. However, a prototype 120° analyzer failed to behave as prescribed by an ideal model that neglected fringing fields. A simulation of this analyzer, which used a detailed finite element evaluation for the fringe field, predicted the behavior and suggested that a better refocus is achieved at 108°…

    As heavy ion beam probe energies increase, the commonly used parallel‐plate energy analyzer may not be practical. A cylindrical electrostatic analyzer is being tested as a possible replacement. However, a prototype 120° analyzer failed to behave as prescribed by an ideal model that neglected fringing fields. A simulation of this analyzer, which used a detailed finite element evaluation for the fringe field, predicted the behavior and suggested that a better refocus is achieved at 108°. Simulation of a 108° analyzer is compared to experimental measurements and confirms that the numerical model correctly predicts the analyzer’s operation.

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言語

  • English

    母国語またはバイリンガル

  • Japanese

    ビジネス上級

組織

  • IEEE

    -

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