JPH0471448B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0471448B2
JPH0471448B2 JP4800585A JP4800585A JPH0471448B2 JP H0471448 B2 JPH0471448 B2 JP H0471448B2 JP 4800585 A JP4800585 A JP 4800585A JP 4800585 A JP4800585 A JP 4800585A JP H0471448 B2 JPH0471448 B2 JP H0471448B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
operational amplifier
resistor
detection element
amplifier
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP4800585A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS61207934A (en
Inventor
Wataru Sakuma
Juji Akishiba
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Keyence Corp
Original Assignee
Keyence Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Keyence Corp filed Critical Keyence Corp
Priority to JP4800585A priority Critical patent/JPS61207934A/en
Publication of JPS61207934A publication Critical patent/JPS61207934A/en
Publication of JPH0471448B2 publication Critical patent/JPH0471448B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G01J5/20Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
    • G01J5/22Electrical features thereof
    • G01J5/24Use of specially adapted circuits, e.g. bridge circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、物体から放射される赤外線のエネ
ルギー量を計測して物体の温度を非接触的に測定
する放射温度計に係り、特に赤外線検出素子に熱
型赤外線検出素子を用い、かつ、常温付近の正確
な温度測定が可能である、いわゆる低温用の放射
温度計の回路に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a radiation thermometer that non-contactly measures the temperature of an object by measuring the amount of energy of infrared rays emitted from the object. The present invention relates to a circuit for a so-called low-temperature radiation thermometer that uses a thermal infrared detection element as an element and is capable of accurate temperature measurement near room temperature.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

周知のように、ステフアン・ボルツマンの法則
(下記参照)により、物体から放射される赤外線
のエネルギー量は、絶対温度の4乗に比例する。
As is well known, according to the Stefan-Boltzmann law (see below), the amount of infrared energy emitted from an object is proportional to the fourth power of the absolute temperature.

W=εσT4 W:物体の単位面積から単位時間に放射される
赤外線のエネルギー量(Wcm-2) ε:放射率 σ:ステフアン・ボルツマン定数(5.67×
10-2Wcm-2K-4) T:絶対温度 以下、説明の都合上、ε(放射率)は1と仮定
する。
W=εσT 4 W: Amount of infrared energy emitted per unit time from unit area of object (Wcm -2 ) ε: Emissivity σ: Stefan-Boltzmann constant (5.67×
10 -2 Wcm -2 K -4 ) T: Absolute temperature Below, for convenience of explanation, ε (emissivity) is assumed to be 1.

熱型赤外線検出素子(サーモパイル、サーミス
タボロメータ等)は、自身の温度と測定対象物の
温度が異なる場合に、検出信号を発生する。すな
わち、測定対象物の温度を測定する際には、熱型
赤外線検出素子の温度を測定し、得られた熱型赤
外線検出素子自身の温度の検出信号と測定対象部
から放射される赤外線による検出信号とを演算す
ることにより、測定対象部の温度を測定すること
ができる。これを以下に記す。
A thermal infrared detection element (thermopile, thermistor bolometer, etc.) generates a detection signal when its temperature differs from the temperature of an object to be measured. In other words, when measuring the temperature of the object to be measured, the temperature of the thermal infrared detection element is measured, and the temperature detection signal of the thermal infrared detection element itself and the infrared rays emitted from the measurement object are detected. By calculating the signal, the temperature of the measurement target part can be measured. This is described below.

ステフアン・ボルツマンの法則により、 W1=σT1 4 W2=σT2 4 W1:測定対象物から放射される赤外線のエネ
ルギー量 W2:熱型赤外線検出素子自身から放射される
赤外線のエネルギー量 T1:測定対象物の温度 T2:熱型赤外線検出素子の温度 したがつて、熱型赤外線検出素子の出力Vは、 V=K(W1−W2)=Kσ(T1 4−T2 4) K:光学系および熱型赤外線検出素子の感度等
により定まる係数 以上のことから明らかなように、熱型赤外線検
出素子の温度T2が判明すれば、測定対象物の温
度T1も判明する。しかし、測定環境の温度変化
により、熱型赤外線検出素子の温度T2が変動す
るので、正確な測定対象物の温度測定を行うため
には、温度補償をする必要がある。この場合に、
測定対象物の温度T1の信号の4乗特性に合致す
る熱型赤外線検出素子の温度T2の信号が得られ
るならば、正確な測定対象物の温度測定が可能で
ある。
According to the Stefan-Boltzmann law, W 1 = σT 1 4 W 2 = σT 2 4 W 1 : Amount of infrared energy emitted from the measurement object W 2 : Amount of infrared energy emitted from the thermal infrared detection element itself T 1 : Temperature of the object to be measured T 2 : Temperature of the thermal infrared detection element Therefore, the output V of the thermal infrared detection element is V=K(W 1 −W 2 )=Kσ(T 1 4 −T 2 4 ) K: Coefficient determined by the optical system and the sensitivity of the thermal infrared detection element.As is clear from the above, if the temperature T2 of the thermal infrared detection element is known, the temperature T1 of the object to be measured can also be determined. Prove. However, since the temperature T 2 of the thermal infrared detection element fluctuates due to temperature changes in the measurement environment, it is necessary to perform temperature compensation in order to accurately measure the temperature of the object to be measured. In this case,
If a signal of the temperature T 2 of the thermal infrared detection element that matches the fourth power characteristic of the signal of the temperature T 1 of the object to be measured can be obtained, accurate temperature measurement of the object to be measured is possible.

熱型赤外線検出素子の温度測定のために、精密
型と簡易型と呼ばれる2つの方式が用いられてい
る。精密型とは、恒温槽を内蔵し、この中に熱型
赤外線検出素子を収納して、常に内部が一定の温
度になるように構成されたものである。この方式
によれば、測定環境の温度変化が生じても、熱型
赤外線検出素子の温度T2は変動しないので、温
度補償を行う必要がなく正確な温度測定が可能で
ある。しかし、この方式では、恒温槽が温まるま
では、即時の温度測定が不可能な点、およびヒー
タを備える必要があるので、装置が大型化すると
いう問題点があつた。一方、簡易型とは、恒温槽
を内蔵しないものであり、熱型赤外線検出素子の
温度測定を行うサーミスタ、測温抵抗体、ダイオ
ード等から、ほぼ温度に比例して出力される熱型
赤外線検出素子の温度信号にいろいろ操作を加え
て、温度補償を行う方式のものである。
Two methods are used to measure the temperature of a thermal infrared detection element: a precision type and a simple type. The precision type is one that has a built-in constant temperature bath and houses a thermal infrared detection element therein so that the inside temperature is always constant. According to this method, even if the temperature of the measurement environment changes, the temperature T 2 of the thermal infrared detection element does not change, so there is no need to perform temperature compensation and accurate temperature measurement is possible. However, this method has problems in that it is impossible to measure the temperature immediately until the constant temperature bath is warmed up, and that the device becomes large because it is necessary to include a heater. On the other hand, the simple type does not have a built-in thermostat, and uses a thermal infrared detection element that measures the temperature of the thermal infrared detection element, such as a thermistor, resistance temperature detector, diode, etc., which outputs an output approximately proportional to the temperature. This method performs temperature compensation by applying various operations to the temperature signal of the element.

この簡易型には、次のような4つの方式が用い
られている。まず、第1の方式は、アナログ・デ
ジタル変換を用いた方式であり、マイクロプロセ
ツサを使用して演算してやり、熱型赤外線検出素
子の温度信号を、測定対象物の温度信号と同じ4
乗特性にする方式である。しかし、この方式で
は、マイクロプロセツサを必要とするため、装置
自体が大型化する欠点があつた。第2の方式は、
関数発生回路を用いる方式であり、熱型赤外線検
出素子の温度信号を回路構成により、4乗特性に
するものである。ところが、この方式は温度特性
が悪く、かつ、特別な部品で回路構成をする必要
があるので、高価になるという欠点があつた。第
3の方式は、特公昭53−10467号公報に開示され
ているように、ダイオードが組み込まれた回路の
利用により、熱型赤外線検出素子の温度信号を1
点ないし数点で折曲させ、4乗特性に近似させる
方式である。しかし、この方式は、ダイオードを
回路に組み込んだために、回路自身がこのダイオ
ードの温度特性の影響を強く受け、測定環境の温
度変化が激しい際には、熱型赤外線検出素子の前
記温度信号の折曲点の位置がずれてしまい、所望
の4乗特性が得られず、正確な温度測定が不可能
になるという問題点があつた。
This simplified version uses the following four methods. The first method uses analog-to-digital conversion, which uses a microprocessor to calculate the temperature signal of the thermal infrared detection element, which is the same as the temperature signal of the object to be measured.
This is a method to make it a power-law characteristic. However, this method requires a microprocessor, which has the disadvantage of increasing the size of the device itself. The second method is
This method uses a function generation circuit, and the temperature signal of the thermal infrared detection element is made to have a fourth power characteristic by the circuit configuration. However, this method has disadvantages in that it has poor temperature characteristics and requires a circuit configuration using special parts, making it expensive. The third method, as disclosed in Japanese Patent Publication No. 53-10467, uses a circuit incorporating a diode to convert the temperature signal of a thermal infrared detection element into a single signal.
This is a method that approximates the fourth power characteristic by bending at one or several points. However, since this method incorporates a diode into the circuit, the circuit itself is strongly influenced by the temperature characteristics of this diode, and when the temperature of the measurement environment changes rapidly, the temperature signal of the thermal infrared detection element There was a problem in that the position of the bending point was shifted, making it impossible to obtain the desired fourth power characteristic and making accurate temperature measurement impossible.

次に、第4の方式は、直線近似と呼ばれている
方式であり、熱型赤外線検出素子の温度信号のう
ち、4乗特性に近似する1部分を温度補償範囲と
するものである。この方式は安価であり、回路自
体の温度特性がないという利点がある。以下、こ
の方式について詳細に説明する。
Next, the fourth method is a method called linear approximation, in which a portion of the temperature signal of the thermal infrared detection element that approximates the fourth power characteristic is set as the temperature compensation range. This method has the advantage of being inexpensive and having no temperature characteristics of the circuit itself. This method will be explained in detail below.

第3図に示すように、測定対象物から放射され
る赤外線8が、レンズ9を透過して熱型赤外線検
出素子10に到達されると、熱型赤外線検出素子
10は検出信号を発生する。この検出信号は、増
幅器11により増幅されたのち、演算器12に送
られる。一方、熱型赤外線検出素子10自身の温
度は、温度測定回路13を構成している抵抗ブリ
ツジ回路2により測定され、信号として送られ
る。温度測定回路13は、第4図に示すような構
成をしている。抵抗ブリツジ回路2の1つの接続
点が、直流電源に接続されている。この抵抗ブリ
ツジ回路2の各辺は、抵抗R3,R4,R5と測温抵
抗体3からなつている。抵抗ブリツジ回路2は、
他の3つの接続点のうち1つの接続点が接地され
ている。残余の接続点は、各々抵抗R6,R7を介
してオペアンプ5に接続されている。オペアンプ
5には抵抗R9が負帰還されている。また、抵抗
R6は、抵抗R8を介して接地されている。以上の
構成からなる温度測定回路13は、前記演算器1
2(第3図参照)に接続されており、演算器12
は、増幅器11および温度測定回路13から送ら
れてくる信号を演算することにより、測定対象物
の温度測定を行つている。
As shown in FIG. 3, when the infrared rays 8 emitted from the object to be measured pass through the lens 9 and reach the thermal infrared detection element 10, the thermal infrared detection element 10 generates a detection signal. This detection signal is amplified by an amplifier 11 and then sent to an arithmetic unit 12. On the other hand, the temperature of the thermal infrared detection element 10 itself is measured by the resistance bridge circuit 2 forming the temperature measurement circuit 13 and sent as a signal. The temperature measurement circuit 13 has a configuration as shown in FIG. One connection point of the resistor bridge circuit 2 is connected to a DC power source. Each side of this resistance bridge circuit 2 is made up of resistors R 3 , R 4 , R 5 and a temperature measuring resistor 3. The resistance bridge circuit 2 is
One of the other three connection points is grounded. The remaining connection points are connected to the operational amplifier 5 via resistors R 6 and R 7 , respectively. A resistor R9 is negatively fed back to the operational amplifier 5. Also, resistance
R6 is grounded via resistor R8 . The temperature measurement circuit 13 having the above configuration includes the arithmetic unit 1
2 (see Figure 3), and is connected to the arithmetic unit 12.
measures the temperature of the object to be measured by calculating signals sent from the amplifier 11 and the temperature measurement circuit 13.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかし、この方式では、温度測定回路により得
られた熱型赤外線検出素子の温度信号のうち、測
定対象物の放射する赤外線のエネルギー量を示
す。測定対象物の温度信号の4乗特性に近似した
部分しか利用することができず、極めて限られた
温度範囲しか補償できないという問題点があつ
た。また、近似しているといつても、実際には前
記4乗特性と同一ではないので、どうしても誤差
が生じる。この誤差は特に、温度が低いか、ある
いは、逆に高い状態においては相当な程度にな
り、温度補償を行つても正確な温度測定は不可能
であるという問題点があつた。
However, in this method, the amount of energy of the infrared rays emitted by the object to be measured is indicated in the temperature signal of the thermal infrared detection element obtained by the temperature measurement circuit. There is a problem in that only a portion that approximates the fourth power characteristic of the temperature signal of the object to be measured can be used, and compensation can only be made for an extremely limited temperature range. Further, even if it is said that it is approximated, it is actually not the same as the fourth power characteristic, so errors inevitably occur. This error becomes considerable, especially when the temperature is low or, conversely, high, and there is a problem in that even if temperature compensation is performed, accurate temperature measurement is impossible.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明は、上記問題点に鑑みてなされたもの
であり、この問題点を解決するための具体的手段
は、測定対象物から放射される赤外線を検出する
赤外線検出素子と、この赤外線検出素子自身の温
度測定を行う温度測定回路を有し、前記赤外線検
出素子と前記温度測定回路の両出力を演算処理す
ることにより温度補償を行う放射温度計におい
て、前記温度測定回路を、直流電源と、第1のオ
ペアンプと、前記直流電源に接続されかつこの第
1のオペアンプの負入力側に接続された抵抗と、
前記第1のオペアンプに負帰還をかける抵抗から
なる加算・増幅器と、 この加算・増幅器の出力側に接続され、かつ、
一辺の抵抗のみが測温抵抗体である抵抗ブリツジ
回路と、 第2のオペアンプと、前記抵抗ブリツジ回路に
接続されかつこの第2のオペアンプの正・負入力
側にそれぞれ接続された抵抗と、この第2のオペ
アンプの正入力側に接続された抵抗に接続されか
つ接地された抵抗と、前記第2のオペアンプに負
帰還をかける抵抗からなる差動増幅器とから構成
して、前記第1のオペアンプの正入力側に前記第
2のオペアンプの出力側を接続するようにしたこ
とである。
This invention has been made in view of the above problem, and specific means for solving this problem include an infrared detection element that detects infrared rays emitted from an object to be measured, and this infrared detection element itself. In the radiation thermometer, the radiation thermometer has a temperature measurement circuit that performs temperature measurement, and performs temperature compensation by processing both outputs of the infrared detection element and the temperature measurement circuit. a resistor connected to the DC power supply and to the negative input side of the first operational amplifier;
an adder/amplifier including a resistor that applies negative feedback to the first operational amplifier; and an adder/amplifier connected to the output side of the adder/amplifier, and
a resistance bridge circuit in which only the resistance on one side is a resistance temperature detector; a second operational amplifier; a resistor connected to the resistance bridge circuit and connected to the positive and negative input sides of the second operational amplifier, respectively; The first operational amplifier comprises a differential amplifier including a resistor connected to the positive input side of the second operational amplifier and a grounded resistor, and a resistor that applies negative feedback to the second operational amplifier. The output side of the second operational amplifier is connected to the positive input side of the operational amplifier.

〔作用〕[Effect]

この発明は、前述のような手段を採つたので次
のような作用がもたらされる。
Since this invention employs the above-mentioned means, the following effects are brought about.

すなわち、直流電源により、加算・増幅器を通
してバイアス電圧を抵抗ブリツジ回路に印加する
ことによつて、測温抵抗体を有する抵抗ブリツジ
回路から生じた放射温度計の熱型赤外線検出素子
の温度信号は、第2のオペアンプと抵抗を有する
差動増幅器により増幅される。増幅された前記信
号は、第1のオペアンプの正側に入力され、この
第1のオペアンプと抵抗を有する加算・増幅器に
よつて、さらに増幅されて再び抵抗ブリツジ回路
に伝達される。加算・増幅器、抵抗ブリツジ回路
および差動増幅器からなるループにおいて、検出
信号はますます増幅される。そして、ある一定の
値で平衡する。この時、得られた熱型赤外線検出
素子の温度信号の特性は、3点を随意設定するこ
とにより、測定対象物の放射する赤外線のエネル
ギーの4乗特性と合致する。
That is, by applying a bias voltage to the resistive bridge circuit through the adder/amplifier using a DC power supply, the temperature signal of the thermal infrared detecting element of the radiation thermometer generated from the resistive bridge circuit having the temperature measuring resistor is expressed as follows. It is amplified by a differential amplifier having a second operational amplifier and a resistor. The amplified signal is input to the positive side of the first operational amplifier, further amplified by the adder/amplifier including the first operational amplifier and a resistor, and transmitted to the resistor bridge circuit again. In a loop consisting of a summing amplifier, a resistor bridge circuit, and a differential amplifier, the detected signal is further amplified. Then, it reaches equilibrium at a certain value. At this time, the characteristics of the temperature signal of the obtained thermal infrared detection element match the fourth power characteristics of the energy of the infrared rays emitted by the measurement object by arbitrarily setting three points.

〔実施例〕〔Example〕

以下、この発明を1実施例をあらわす図面に基
づいて詳しく説明する。なお、従来例と同一の部
分は説明を簡略化する。
Hereinafter, the present invention will be explained in detail based on the drawings showing one embodiment. Note that the description of the same parts as in the conventional example will be simplified.

第2図に示すように、放射温度計の回路構成は
第3図に示した従来例と殆ど同じである。ただ、
従来例の温度測定回路13が、4乗特性発現回路
7に変更されている。
As shown in FIG. 2, the circuit configuration of the radiation thermometer is almost the same as the conventional example shown in FIG. just,
The temperature measurement circuit 13 of the conventional example has been changed to a fourth power characteristic expression circuit 7.

この4乗特性発現回路7の1実施例を第1図に
示す。直流電源の負側に接続された抵抗R1が、
第1のオペアンプ1の負入力側に接続されてい
る。第1のオペアンプ1には、抵抗R2が負帰還
をかけている。上記抵抗R1,R2および第1のオ
ペアンプ1によつて、加算・増幅器Aが形成され
ている。第1のオペアンプ1の出力側に、抵抗ブ
リツジ回路2が接続されている。抵抗ブリツジ回
路2は、抵抗R3,R4,R5および測温抵抗体3か
ら構成されている。抵抗R4と測温抵抗体3の接
続点4は、抵抗R6を介して第2のオペアンプ5
の正入力側に接続されている。一方、抵抗R3
R5の接続点6は、抵抗R7を介して第2のオペア
ンプ5の負入力側に接続されている。また、測温
抵抗体3と抵抗R5の接続点14は、接地されて
いる。また、前記抵抗R6は、抵抗R8を介して接
地されている。第2のオペアンプ5は、抵抗R9
が負帰還をかけている。上記抵抗R6,R7,R8
R9および第2のオペアンプ5によつて、差動増
幅器Bが形成されている。そして、第2のオペア
ンプ5の出力側は、前記第1のオペアンプ1の正
入力側に接続されている。
One embodiment of this fourth power characteristic expression circuit 7 is shown in FIG. The resistor R 1 connected to the negative side of the DC power supply is
It is connected to the negative input side of the first operational amplifier 1. A resistor R 2 provides negative feedback to the first operational amplifier 1. The resistors R 1 and R 2 and the first operational amplifier 1 form an adder/amplifier A. A resistor bridge circuit 2 is connected to the output side of the first operational amplifier 1. The resistance bridge circuit 2 includes resistors R 3 , R 4 , R 5 and a temperature measuring resistor 3. The connection point 4 between the resistor R 4 and the resistance temperature detector 3 is connected to the second operational amplifier 5 via the resistor R 6 .
connected to the positive input side of the On the other hand, with resistance R 3
A connection point 6 of R 5 is connected to the negative input side of the second operational amplifier 5 via a resistor R 7 . Further, the connection point 14 between the temperature sensing resistor 3 and the resistor R5 is grounded. Furthermore, the resistor R6 is grounded via a resistor R8 . The second operational amplifier 5 has a resistor R 9
has given negative feedback. The above resistances R 6 , R 7 , R 8 ,
R 9 and the second operational amplifier 5 form a differential amplifier B. The output side of the second operational amplifier 5 is connected to the positive input side of the first operational amplifier 1.

以上のように構成された、放射温度計の熱型赤
外線検出素子の温度補償を行う4乗特性発現回路
7において、測温抵抗体3が熱型赤外線検出素子
10(第2図参照)の温度を検知すると、抵抗ブ
リツジ回路2は検出信号を発生する。この検出信
号は、差動増幅器Bに入力され、増幅される。増
幅された検出信号は、加算・増幅器Aに伝達さ
れ、抵抗ブリツジ回路2に伝達される。以下、同
様にして、抵抗ブリツジ回路2、差動増幅器Bお
よび加算・増幅器Aによつて構成されるループに
おいて、正帰還がかかり、ますます前記検出信号
は増幅される。そして、ある一定の値で平衡す
る。この時、得られた熱型赤外線検出素子10の
温度信号の特性は、任意の3点を設定してやるこ
とにより、4乗特性と合致する。
In the fourth power characteristic expression circuit 7 configured as described above, which performs temperature compensation for the thermal infrared detecting element of the radiation thermometer, the resistance temperature detector 3 adjusts the temperature of the thermal infrared detecting element 10 (see FIG. 2). When detected, the resistor bridge circuit 2 generates a detection signal. This detection signal is input to differential amplifier B and amplified. The amplified detection signal is transmitted to the adder/amplifier A, and then to the resistive bridge circuit 2. Thereafter, in a similar manner, positive feedback is applied in a loop constituted by the resistive bridge circuit 2, the differential amplifier B, and the summing/amplifying amplifier A, and the detection signal is further amplified. Then, it reaches equilibrium at a certain value. At this time, the characteristics of the obtained temperature signal of the thermal infrared detection element 10 match the fourth power characteristic by setting three arbitrary points.

この実施例においては、加算・増幅器Aの抵抗
R1は直流電源の負側に接続されていたが、正側
に接続しても得られる4乗特性には差異がない。
In this example, the resistance of summing amplifier A is
Although R 1 was connected to the negative side of the DC power supply, there is no difference in the fourth power characteristics obtained even if it is connected to the positive side.

〔発明の効果〕 以上の説明から明らかなように、この発明にか
かる放射温度計は、測定対象物から放射される赤
外線のエネルギーの4乗特性に合致する温度補償
を、極めて簡単な構成の回路を用いることにより
達成しているので、部品点数を増加させることも
なく、しかも高価な部品を使用することもなく、
測定対象物の正確な温度測定が可能である。ま
た、環境温度の変化に対して特性が変化するダイ
オード等の要素を用いずに回路構成を行つている
ので、温度変化の激しい環境下においても正確な
温度測定が可能である。
[Effects of the Invention] As is clear from the above description, the radiation thermometer according to the present invention performs temperature compensation that matches the fourth power characteristic of the energy of infrared rays emitted from the object to be measured using a circuit with an extremely simple configuration. This is achieved by using , so there is no need to increase the number of parts or use expensive parts.
Accurate temperature measurement of the object to be measured is possible. Furthermore, since the circuit configuration does not use elements such as diodes whose characteristics change with changes in environmental temperature, accurate temperature measurement is possible even in environments with rapid temperature changes.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の4乗特性発現回路の1実施
例の回路図、第2図はこの発明にかかる放射温度
計の簡略した温度補償のブロツク図、第3図は従
来例の簡略した温度補償のブロツク図、第4図は
従来例の温度測定回路の回路図である。 1…第1のオペアンプ、2…抵抗ブリツジ回
路、3…測温抵抗体、4…接続点、5…第2のオ
ペアンプ、6…接続点、7…4乗特性発現回路、
10…赤外線検出素子、12…演算器、14…接
続点、A…加算・増幅器、B…差動増幅器。
FIG. 1 is a circuit diagram of one embodiment of the fourth power characteristic expression circuit of the present invention, FIG. 2 is a simplified temperature compensation block diagram of the radiation thermometer according to the present invention, and FIG. 3 is a simplified temperature compensation diagram of a conventional example. A compensation block diagram, FIG. 4, is a circuit diagram of a conventional temperature measuring circuit. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... First operational amplifier, 2... Resistance bridge circuit, 3... Resistance temperature sensor, 4... Connection point, 5... Second operational amplifier, 6... Connection point, 7... Fourth power characteristic expression circuit,
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10...Infrared detection element, 12... Arithmetic unit, 14... Connection point, A... Adder/amplifier, B... Differential amplifier.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 測定対象物から放射される赤外線を検出する
赤外線検出素子と、この赤外線検出素子自身の温
度測定を行う温度測定回路を有し、前記赤外線検
出素子と前記温度測定回路の両出力を演算処理す
ることにより温度補償を行う放射温度計におい
て、 前記温度測定回路が、 直流電源と、 第1のオペアンプと、前記直流電源に接続され
かつこの第1のオペアンプの負入力側に接続され
た抵抗と、前記第1のオペアンプに負帰還をかけ
る抵抗からなる加算・増幅器と、 この加算・増幅器の出力側に接続され、かつ、
一辺の抵抗のみが測温抵抗体である抵抗ブリツジ
回路と、 第2のオペアンプと、前記抵抗ブリツジ回路に
接続されかつこの第2のオペアンプの正・負入力
側にそれぞれ接続された抵抗と、この第2のオペ
アンプの正入力側に接続された抵抗に接続されか
つ接地された抵抗と、前記第2のオペアンプに負
帰還をかける抵抗からなる差動増幅器とから構成
されていて、前記第1のオペアンプの正入力側に
前記第2のオペアンプの出力側が接続されている
ことを特徴とする放射温度計。
[Claims] 1. An infrared detection element that detects infrared rays emitted from an object to be measured, and a temperature measurement circuit that measures the temperature of the infrared detection element itself, wherein the infrared detection element and the temperature measurement circuit In a radiation thermometer that performs temperature compensation by processing both outputs, the temperature measurement circuit is connected to a DC power supply, a first operational amplifier, and the DC power supply, and is connected to the negative input side of the first operational amplifier. an adder/amplifier including a connected resistor and a resistor that applies negative feedback to the first operational amplifier; connected to the output side of the adder/amplifier, and
a resistance bridge circuit in which only the resistance on one side is a resistance temperature detector; a second operational amplifier; a resistor connected to the resistance bridge circuit and connected to the positive and negative input sides of the second operational amplifier, respectively; The differential amplifier includes a resistor connected to a resistor connected to the positive input side of the second operational amplifier and grounded, and a resistor that applies negative feedback to the second operational amplifier. A radiation thermometer characterized in that an output side of the second operational amplifier is connected to a positive input side of the operational amplifier.
JP4800585A 1985-03-11 1985-03-11 Radiation thermometer Granted JPS61207934A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4800585A JPS61207934A (en) 1985-03-11 1985-03-11 Radiation thermometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4800585A JPS61207934A (en) 1985-03-11 1985-03-11 Radiation thermometer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61207934A JPS61207934A (en) 1986-09-16
JPH0471448B2 true JPH0471448B2 (en) 1992-11-13

Family

ID=12791182

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4800585A Granted JPS61207934A (en) 1985-03-11 1985-03-11 Radiation thermometer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61207934A (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS61207934A (en) 1986-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3777568A (en) D. c. electronic apparatus for ir radiation temperature measurement
JP2826337B2 (en) Radiation thermometer
JPH0328728A (en) Instrument and method of measuring electromagnetic radiation
US4109196A (en) Resistance measuring circuit
US6609824B1 (en) Radiation thermometer
JPS5852529A (en) Temperature compensating method of thermopile
US4061917A (en) Bolometer
US3519352A (en) Null-system radiometer
JPH0471448B2 (en)
JPH06142063A (en) Radiation clinical thermometer
JPS63286729A (en) Thermopile detector
JPH03273121A (en) Radiation thermometer
JP3166565B2 (en) Infrared detection circuit
JPH036530U (en)
JP3733846B2 (en) Correction system control method, thermometer and correction device
Alayli et al. Compensation of the thermal influence on a high accuracy optical fibre displacement sensor
JPH0516730B2 (en)
JPH07140008A (en) Radiation thermometer
JPH06347330A (en) Temperature measuring method and apparatus with infrared sensor
JPH0669766U (en) Isothermal control type calorimeter
JPH03215720A (en) Infrared thermometer
SU1365868A1 (en) Device for measuring temperature
JPH0566975B2 (en)
JPH0843208A (en) Infrared detection circuit
JPH08320257A (en) Infrared detecting device